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VLSI-test-technology

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最后更新： 2020-01-03 20:34:26

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备注说明
源码介绍
vlsi VLSI TESTING 测试性 vlsi test 可测性设计 
所属分类：书籍源码
开发工具：PPT
文件大小：3473KB
下载次数：34
上传日期：2007-11-14 19:13:21
说明：  中国科学院计算所李晓维研究员的VLSI测试与可测试性设计讲义
(Calculated by the Chinese Academy of Sciences researcher Li Xiaowei of VLSI testing and design for testability notes)
文件列表：
program.pdf
第1讲20070910.ppt
第2讲20070917.ppt
第3讲20070924.ppt
第4讲2007-10-15.ppt
第5讲2007-10-22.ppt
第6讲2007-10-29.ppt
第7讲2007-11-05.ppt
预讲20070910.ppt
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